2,307 Results for : errors
-
Siebring:Songs, The Brain and Proficien
Erscheinungsdatum: 04/2009, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Songs, The Brain and Proficiency in Second LanguageInstruction, Titelzusatz: A Systematic Approach Based On Songs to Prevent orCorrect Errors In French as a Second Language, Autor: Siebring, Margaret, Verlag: VDM Verlag, Sprache: Englisch, Rubrik: Erziehung // Bildung, Allgemeines, Lexika, Seiten: 144, Informationen: Paperback, Gewicht: 231 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 51.29 EUR excl. shipping
-
Qaisar:Progressive In-Network Reliabili
Erscheinungsdatum: 30.09.2009, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Progressive In-Network Reliability for Wireless Sensor Networks, Titelzusatz: A novel data reliability framework that progressively recovers errors without fast depleting individual sensors using capacity approaching LDPC codes, Autor: Qaisar, Saad, Verlag: VDM Verlag Dr. Müller e.K., Sprache: Englisch, Rubrik: Technik // Sonstiges, Seiten: 100, Informationen: Paperback, Gewicht: 167 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 43.39 EUR excl. shipping
-
Non-Linear Least Squares
Erscheinungsdatum: 01/2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Non-Linear Least Squares, Titelzusatz: Least Squares, Nonlinear Regression, Linear Least Squares, Errors and Residuals in Statistics, Gradient, Gauss-Newton Algorithm, Parabola, Redaktion: Surhone, Lambert M. // Timpledon, Miriam T. // Marseken, Susan F., Verlag: Betascript Publishers, Sprache: Englisch, Rubrik: Mathematik // Sonstiges, Seiten: 84, Informationen: Paperback, Gewicht: 142 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 31.59 EUR excl. shipping
-
Youden's J Statistic
Erscheinungsdatum: 01/2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Youden's J Statistic, Titelzusatz: Sensitivity and Specificity, Binary classification, Type I and Type II errors, Receiver Operating Characteristic, Detection Theory, Positive Predictive Value, Redaktion: Surhone, Lambert M. // Timpledon, Miriam T. // Marseken, Susan F., Verlag: Betascript Publishers, Sprache: Englisch, Rubrik: Mathematik // Sonstiges, Seiten: 96, Informationen: Paperback, Gewicht: 159 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 31.59 EUR excl. shipping
-
Studentized Residual
Erscheinungsdatum: 06.02.2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Studentized Residual, Titelzusatz: Estimator, Data Point, Regression Analysis, Student's T-Statistic, William Sealy Gosset, Normalization (statistics), Errors and Residuals in Statistics, Redaktion: Surhone, Lambert M. // Timpledon, Miriam T. // Marseken, Susan F., Verlag: VDM Verlag Dr. Müller e.K., Sprache: Englisch, Rubrik: Mathematik // Wahrscheinlichkeitstheorie, Seiten: 80, Informationen: Paperback, Gewicht: 137 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 31.59 EUR excl. shipping
-
Total Least Squares
Erscheinungsdatum: 06.02.2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Total Least Squares, Titelzusatz: Deming Regression, Least Squares, Linear Least Squares, Errors and Residuals in Statistics, Covariance Matrix, Lagrange Multipliers, Redaktion: Surhone, Lambert M. // Timpledon, Miriam T. // Marseken, Susan F., Verlag: VDM Verlag Dr. Müller e.K., Sprache: Englisch, Rubrik: Mathematik // Sonstiges, Seiten: 84, Informationen: Paperback, Gewicht: 143 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 31.59 EUR excl. shipping
-
Dubey:An Approach to mitigate Single Ev
Erscheinungsdatum: 10/2012, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors, Titelzusatz: Single Event Effects in Memories and Different Mitigation Strategies for Single Event Effects, Autor: Dubey, Amarish, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 112, Informationen: Paperback, Gewicht: 183 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 43.39 EUR excl. shipping
-
Mostafa:Design for Yield and Reliabilit
Erscheinungsdatum: 28.01.2014, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits, Titelzusatz: Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits, Autor: Mostafa, Hassan // Anis, Mohab // Elmasry, Mohamed, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 296, Informationen: Paperback, Gewicht: 457 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 51.99 EUR excl. shipping
-
Shahhoseiny:Common Error in Paragraph W
Erscheinungsdatum: 18.10.2014, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Common Error in Paragraph Writing, Titelzusatz: A Study of Errors in Paragraph Writing in English by First Year Translation Students, Autor: Shahhoseiny, Hajar, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Bildungsstrategien und // politik // Bildungswesen: Organisation und Verwaltung, Rubrik: Bildungswesen (Schule // Hochschule), Seiten: 80, Informationen: Paperback, Gewicht: 137 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 36.29 EUR excl. shipping
-
Ahmed El Badawy:Correlates of Missed Nu
Erscheinungsdatum: 11.01.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Correlates of Missed Nursing Care in Medical Intensive Care Units, Titelzusatz: Factors Contributing to Errors of Omission, Autor: Ahmed El Badawy, Manar // Hamid, Magda A. // Salam, Yousria A., Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Medizin // Allgemeines, Lexika, Seiten: 236, Informationen: Paperback, Gewicht: 361 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
- Price: 65.39 EUR excl. shipping